À la découverte du microscope électronique à balayage
Introduction à la théorie et démonstration pratique de microscopie électronique à balayage (MEB) et de microanalyse élémentaire sur un MEB à effet de champ (FEGSEM) et un spectromètre EDX
13 i 14 octubre 2018Pasado
Este evento incluye adaptaciones de accesibilidad
Discapacidad auditiva
Discapacidad psicológica
Discapacidad motriz
David Montero IMPC FR2482
[Visite] La plate-forme de microscopie électronique à balayage de l'Institut des Matériaux de Paris Centre (IMPC FR 2482) ouvre ses portes pour une démonstration sur :
Au cours d'une visite de trois-quarts d'heure, le responsable présentera les principes de base du fonctionnement d'un MEB et du spectromètre EDX (analyse élémentaire) et fera une démonstration pratique des capacités des instruments sur des échantillons d'origine biologique, minérale et des matériaux de la recherche.
Renseignements sur les instruments :
http://www.impc.upmc.fr/fr/plateformes/microscopie/sem_feg.html
Entrée libre et gratuite, mais nombre de places limitées à 7 par visite : rendez-vous aux heures de visite aux point info du Village des Sciences
Sorbonne Université, MEB, EDX, FEGSEM, Microscopie électronique, Analyse élémentaire, microscopie, spectrométrie
